Tea Time 学术活动系列邀请报告(168)

　　报告题目： 像素探测器芯片性能与测试

　　报 告 人： 汪虎林副研究员 （华中师范大学）

　　时    间：3月19日（星期五），11:00

　　地    点：理学院 1-401物理学科会议室

　　报告摘要：

　　探测器芯片测试是连接芯片设计与应用的关键步骤。气体电离探测器和半导体探测器是粒子物理与核物理实验中最常用的两类径迹探测器。本报告将主要介绍用于气体电离探测器的Topmetal-S芯片、用于半导体顶点探测器的JadePix3芯片的性能以及测试工作。

　　报告人简介：

　　汪虎林，男，副研究员。2003-2012年中国科学技术大学近代物理系本科、博士。2012-2019年于美国南卫理公会大学、加拿大阿尔伯塔大学担任博士后工作。2020-至今华中师范大学副研究员。研究方向为粒子探测器研制及性能测试。